こんにちは、エレクトロニクス事業部です。
2025年7月3日（木）、当社の新技術開発拠点「TEM（透過型電子顕微鏡）施設」の開所式を執り行いました。

本施設は、解析技術の高度化と、九州地域における半導体関連産業との連携強化を目的として、技術開発の一翼を担う施設として整備されたものです。
式典には、杵築市長、大分県商工労働部をはじめ、多くの関係者にご出席いただきました。

社長の石井からは、TEM設立に込めた技術革新への想いや今後の展望が語られ、杵築市長 永松様、大分県商工労働部審議監 佐藤様からも、産業振興への期待と支援の言葉を頂戴しました。
式典のハイライトとして、関係者によるテープカットセレモニーが行われ、施設の正式な始動を記念しました。

その後のラインツアーでは、解析担当の池邉より、TEM（透過型電子顕微鏡）の観察分解能について紹介があり、さらに微細加工装置であるFIB「Helios 5」の特徴や活用事例についても説明が行われました。
参加者の皆様には、当社の解析技術の強みと、TEMが担う未来への可能性を実際にご覧いただく機会となりました。

本式典の様子は、以下の新聞にて紹介されています：
• 日刊工業新聞（西日本面）
• 大分合同新聞（大分・別杵面）
※いずれもログインが必要となります。

今後もTEMを中心に、解析技術のさらなる高度化と技術力の向上に努めてまいります。

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